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  • 高速探測器
    高速探測器

    高速線陣CMOS探測,高速探測器類型:寬譜響應高速近紅外探測器、寬譜響應高速可見探測器、高靈敏高速可見探測器等。

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  • 非線性SHG測試系統
    非線性SHG測試系統

    SHG100非線性SHG測試系統電控位移臺:行程范圍20x20mm。支持同步觸發掃描,用于SHG成像。

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  • Z掃描測試系統-ZTS100
    Z掃描測試系統-ZTS100

    雙光子吸收測試,Z掃描測試系統-ZTS100抖動消除:參比雙通道信號同時采集;功率檢測范圍:50 nW-40 mW。

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  • 超快泵浦探測陰影成像系統
    超快泵浦探測陰影成像系統

    超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統UPSI100主要利用調節pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上,樣品表面會產生一定程度的損毀,由于本過程很快(p...

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  • MICRO LED晶圓級綜合檢測系統
    MICRO LED晶圓級綜合檢測系統

    晶圓位錯缺陷檢測,MICRO LED晶圓級綜合檢測系統明場/PL檢測類型:明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。

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  • 鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統
    鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統

    鈣鈦礦組件效率優化方案:鈣鈦礦疊層電池表征,鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統檢測時間<10 min(10cm*10cm) 空間分辨率20 μm/100μm。

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  • SiC晶圓質量成像檢測系統
    SiC晶圓質量成像檢測系統

    熒光壽命成像,晶圓位錯缺陷檢測,SiC晶圓質量成像檢測系統:晶圓襯底質量(載流子壽命)高速成像,快速篩查外延片晶格質量。

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  • 碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統
    碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統

    碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統:最高檢測速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識別。

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  • 可調諧納秒脈沖染料激光器
    可調諧納秒脈沖染料激光器

    可調諧納秒脈沖染料激光器這款可調諧、窄線寬的染料激光器采用了緊湊的一體化設計,并配備有堅固的金屬外殼,從而保證了穩定的性能。它可以根據需求進行定制,以滿足應用的要求。

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  • 光參量放大器
    光參量放大器

    光參量放大器是一種不用再生調制信號而直接放大光信號的設備,其工作原理基于粒子數反轉和受激輻射,即在泵浦光的作用下,用輸入的光信號去激勵已經實現粒子數反轉的激活物質,使光信號得到放大。創銳光譜二極管泵浦...

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